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大口径光学元件检测设备
大口径光学元件吸收缺陷检测仪

大口径光学元件吸收缺陷检测仪(Model PTM-2000-LA),适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可以根据用户具体需求进行紫外、可见或者近红外波段的精密检测和分析。
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大口径光学元件面形检测系统

大口径光学元件面形检测系统,用于大口径光学元件加工过程中光学表面的光学平整度检测,系统能够高效、高精度完成大口径光学元件的工程化批量检测。
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大口径光学元件三维缺陷检测仪

大口径光学元件三维缺陷检测仪(Model LS3D-2000-LA),适用于各类大口径光学材料的三维缺陷检测和分析,特别是光学晶体、光学玻璃的三维缺陷检测和分析。本系统是一款快速、简便、高灵敏度的检测仪器。
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