此次大会，由中国光学工程学会联合各单位组织召开，旨在对光电测试测量技术及产业发展中的热点议题和痛点难题开展深入交流，共同促进光电测试测量领域理论创新、关键技术攻关、核心基础设备研发、测试标准制定和应用领域拓展，建立以高校、科研院所及重点实验室引领的光电测试测量创新技术生态链，打通科研与产业之间的堵点，为工业、科技和民用等应用领域提供高性能、高可靠光电测试测量装备，逐步实现高端测试测量设备的国产化献计献策。

专题六：集成电路光电检测

陈坚 CTO   5月18日下午16:30~16:50

光学缺陷检测技术在半导体晶圆与芯片领域的应用

地点：大连日航饭店明苑AB

届时，欢迎大家莅临现场交流指导！