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大口径元件散射缺陷检测仪
产品介绍
大口径元件散射缺陷检测仪(LSDI-2000-LA、LSDI-3000-C)，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够快速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。
注：可以根据客户需求提供同类定制仪器和相关测试的解决方案
01
高速检测
02
高灵敏度
03
高重复性
04
全自动操作
05
可根据不同标准自动判别
06
可根据客户需求，综合开发定制包括多种检测技术的设备
如果您对本款产品有意向，想了解更多可以给 我们留言，我们将在第一时间与您联系
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